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【第2話】 予算が絞られる中、最小コストで 新しいテストに対応するには? 3/3

半導体テストソリューション

半導体テストシステムの柔軟性を向上すると同時に、テストにかかるコストを削減

半導体チップの設計は年々複雑化しているため、性能の特性評価を行うにはより高度なテストシステムが求められており、テストコストは増加しています。NI PXIのような柔軟性に優れたハードウェアプラットフォームとNI LabVIEWやNI TestStandのような拡張性のあるソフトウェアを採用することにより、チップテストの総コストを削減することができます。現在多くの半導体メーカーが、検証、特性評価、製造などの段階で、A/Dコンバータ(ADC)から電源管理IC(PMIC)まであらゆるチップのテストにナショナルインスツルメンツのソリューションを採用しています。

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ユーザ事例
NI LabVIEWとNI PXIを使用してレゾルバの動作を模擬、マイコンシステム評価に大きく貢献

富士通マイクロソリューションズ株式会社 MS開発本部 ソリューション開発統括部 マイコンシステム開発部 部長 越川丈太郎氏

アプリケーションごとに異なるプログラムによって稼働するマイコンについては、実際に使用される条件での動作を十分に評価/検証する必要がある。その際、問題になるのが、システムの挙動を安定的かつ再現性良く評価するために、マイコンに信号を入出力する周辺部品を含めた環境を用意しなければならないということだ。そうした周辺部品の1つに、レゾルバセンサーがある。富士通マイクロソリューションズでは、NIのLabVIEWとPXIを活用することにより、このレゾルバの動作を模擬する信号生成用治具を開発した。

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モジュールとコントローラを格納します。モジュール間の同期のための基準クロック、トリガラインや、モジュールとコントローラ間の通信用バスが含まれています。コントローラとモジュールが3つ入る4スロットシャーシから、モジュールが17枚格納できる18スロットシャーシまで、省スペースのものから多チャンネルに対応できるものまで、様々な種類のシャーシをご用意しています。

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PXIコントローラ

PXIコントローラは、PXIシステムのPC部で、CPU、メモリ、SSDを内蔵しています。デスクトップPCやワークステーション、サーバ、ノート PC を使用したリモートコントローラや、Microsoft OS(Windows Vista/XP)またはリアルタイムOS(LabVIEW Real-Time)をインストールした高性能な組込コントローラまで、いくつかの選択肢があります。LabVIEWなどのプログラミング言語で計測・制御用アプリケーション開発を行います。

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PXIモジュール

信号の入出力の役割を担う部分です。高分解能DC測定、高速オシロスコープ・デジタイザ、6 GHz RF入出力、画像集録やモータ制御など450種類以上のモジュールをご用意しています。それらのモジュールを組み合わせて、1チャンネルから数千チャンネルまで拡張可能なテストシステムを構築できます。

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ナショナルインスツルメンツでは、PXIシステムの開発を簡素化するソフトウェアや、自動化されたテスト/計測システムを校正し、制御を行うテスト管理ソフトウェアを幅広く取り揃えています。例えば、NI LabVIEWは、高度なテスト/検証/評価試験アプリケーションを短時間で開発できる直感的なグラフィカルプログラミング環境です。マルチコア、FPGAなどの技術に対応しており、高性能な自動テストシステムを開発することができます。

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半導体産業向けソリューション
パンフレット

NI PXIプラットフォームは、PCバスやプロセッサ、FPGA 技術の最新の研究成果を生かして、半導体テストの最適化を次の段階に進めるステージとして機能し、最終的にはテストにかかる費用を低減させます。

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NI PXIの強みとは?

PXIとLabVIEWシステム開発ソフトウェアを組み合わせることで、テストの実行を高速化し、スループットや拡張性を向上させるとともに、システムにかかる総コストを大幅に削減することができます。

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PXIモジュール式計測器とLabVIEWによるテストシステム構築
体験セミナー

PXIモジュール式計測器とNI LabVIEWを用いてテストシステムを構築し、PXIモジュール式計測器の機能や性能、一般計測器との違いなど、体験を通して理解することができます。

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