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株式会社 シキノハイテック

    会社名

    株式会社 シキノハイテック

    連絡先住所

    (本社・魚津工場)
    937-0041 富山県魚津市吉島829

    (九州事業所)
    808-0138 福岡県北九州市若松区ひびきの北1-103 産学連携センター5号館213号室

    連絡先TEL/FAX

    (本社・魚津工場)
    TEL: 0765-22-3477  FAX: 0765-22-3916

    (九州事業所)
    TEL: 093-695-3613  FAX: 093-695-3614

    ホームページ http://www.shikino.co.jp/
    電子メール

    Support.labview@shikino.co.jp

    担当者氏名 大賀 陽介
    所属部署/役職

    電子事業本部 テストソリューション部 部長代理

    主な業務地域 日本全国
    取得した認証・資格*

    ISO9001認証取得、ISO14001認証取得、ISO27001認証取得
    CLD:1名、CLAD:1名 

    専門・得意分野

    半導体検査事業

    主な取扱いNI製品 LabVIEW , PXI , Compact DAQ , Compact RIO
    メッセージ

    製造部門を持ち、設計・開発から製造までトータルに承ります。

    *1  プラチナアライアンスパートナーになるには、各レベルでも厳しい審査に合格した上で最終的に第三者審査顧問となる CSIA (control and information system integrators association) に合格する必要があります。この CSIA は、財務状況、戦略的人事、マーケティング、営業、経営面で審査します。したがってお客様に安定的な高品質のインテグレーションサービスを供給できるインテグレータだと認知され、北米を中心に信頼されたインテグレータの資格であると認知されます。

    *CLD(LabVIEW開発者認定試験)/CLAD(LabVIEW準開発者認定試験)/CPI(NI 認定講師資格試験)

     

    リレー特性評価装置
    オペアンプ特性検査装置
    EM(エレクトロマイグレーション)評価用システム
    アナログテストシステム
    オープン・ショート・リーク テストシステム

     

    【導入実績1】

    オペアンプ特性検査装置

    業界 半導体関連
    顧客の課題

    多品種のオペアンプ、レギュレータの動作検査を省スペースで実現すること

    システム名称 信号処理とデータ集録、テストシステムの自動化
    アプリケーション IC検査システム
    概要・特徴 品種ボードを載せ替えることで多品種の動作検査を実現可能
    課題解決の鍵となった技術

    PXIシャーシにリレードライバモジュール(NI PXI2567)DMM(NI PXI-4070)を搭載させ省スペース化を実現

    システム又は製品の詳細説明 LabVIEWおよびNI PXI-2567NI PXI-4070LabVIEWに対応した当社SMU (SHSA-101-100)にてシステム構築し、電圧/電流の印可・測定によってオペアンプやレギュレータの特性検査を行います。
    使用したハードウェア

    NI PXI-8196NI PXI-4070NI PXI-2567NI PXI-4110

    使用したソフトウェア LabVIEW
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク http://www.shikino.co.jp/products/test/index.html#point_test58

     

    【製品1】

    ローコストアナログテスター

    業界 半導体関連
    名称 AITS (アナログテストシステム)
    アプリケーション 信号処理とデータ集録、テストシステムの自動化
    概要・特徴

    DCテスト主体の汎用アナログテスター

    弊社開発のPPVI、タイムメジャー以外はPXIモジュールを使用した汎用テスター

    システム又は製品の詳細説明

    被試験デバイス(DUT)を4個同時測定

    使用したハードウェア PXI-1044PXI-8820PXI-6508PXI-4070PXI-4461PXI-5402
    使用したソフトウェア LabVIEW
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク http://www.shikino.co.jp/products/test/#point_test25

     

    【製品2】

    オープンショートチェッカ

    業界 半導体関連
    名称 AITS-OSL (オープン・ショート・リーク テストシステム)
    アプリケーション 信号処理とデータ集録、テストシステムの自動化
    概要・特徴 LSIの多ピン化に対応したローコスト版コンパクトテスター
    システム又は製品の詳細説明

    1個測で最大2048ピンのデバイスに対応可能

    被試験デバイス(DUT)を最大8個同時測定可能

    使用したハードウェア

    PCI-4065PCI-6059

    使用したソフトウェア -
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク

    http://www.shikino.co.jp/products/test/#point_test26