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株式会社 ペリテック

    会社名

    株式会社 ぺリテック

    連絡先住所

    【本社】
    〒370-0862 群馬県高崎市片岡町1-17-2 

    【東京営業所】
    〒141-0031 東京都品川区西五反田2-27-4 明治安田生命五反田ビル3F

    【名古屋営業所】
    〒448-0807 愛知県刈谷市東刈谷町3-9-3 大脇ビル

    連絡先TEL/FAX

    【本社/東京営業所】
    TEL: 027-328-6970   FAX: 027-322-7218

    【名古屋営業所】
    TEL: 0566-62-5721 

    ホームページ http://www.peritec.co.jp
    電子メール

    peritec@mail.peritec.co.jp

    担当者氏名 井澤 年宏 (イザワ トシヒロ)
    所属部署/役職

    代表取締役

    主な業務地域 日本全国
    取得した認証・資格*

    RF and Wireless Specialty

    CLA:11名、CLD:1名、CSIA取得*1、ISO9001取得

    専門・得意分野

    ・ EMC・電磁ノイズ評価

    Ÿ  自動車関連テスト

    Ÿ  半導体関連テスト/エレクトロニクス

    Ÿ  RF(無線)/ワイヤレステスト

    Ÿ  音響・振動解析

    Ÿ  生産ラインテスト、生産管理システム構築

    Ÿ  医療・ライフサイエンス計測

    Ÿ  画像処理・解析

    Ÿ  ロボティクス・メカトロニクス

    Ÿ  自動試験、評価システム

    Ÿ  測定サービス、キャリブレーション

    Ÿ  海外でのシステム構築、製品提供

    LabVIEWコンサルティング

    主な取扱いNI製品 LabVIEW、NI TestStand、DAQ(データ集録製品)、CompactDAQ、PXI、SCXI、モーションコントロールボード、SCC、FieldPoint、LabVIEW Real-Time、Single-Board RIO(FPGA)、CompactRIO、myRIO
    メッセージ

    [ぺリテックの特徴]

    ・ 日本唯一のプラチナ・アライアンス・パートナーとして常に発展をし続けています。

    ・ 日本最多 LabVIEW認定技術者の合格者が約20名(CLA10 CLD10)

    ・ ISO9001・CSIA認定の世界水準のプロジェクト管理能力を有している。

    ・ 創業以来4,000件以上の開発。技術と経験の両方があるからこそ成功できるノウハウがあるのです。

    ・ 日々進化するテクノロジーを活用し、低コストかつ短期間の開発を設計・ご提案します。

    *1  プラチナアライアンスパートナーになるには、各レベルでも厳しい審査に合格した上で最終的に第三者審査顧問となる CSIA (control and information system integrators association) に合格する必要があります。この CSIA は、財務状況、戦略的人事、マーケティング、営業、経営面で審査します。したがってお客様に安定的な高品質のインテグレーションサービスを供給できるインテグレータだと認知され、北米を中心に信頼されたインテグレータの資格であると認知されます。

    *CLD(LabVIEW開発者認定試験)/CLAD(LabVIEW準開発者認定試験)/CPI(NI 認定講師資格試験)

     

    ・EMIテスタ(電磁界、ノイズ測定)
    ・ICテスタ(半導体関連)
    ・ECUテスタ、車載データロガー(自動車関連)
    心電図・胃電図自律神経解析システム(医療関連) 
    ・RFIDテスタ
    ・RF(無線)試験システム
    ・画像処理・解析システム
    ・LED・LCDテスター
    ・音響・磁気・振動 試験システム 
    ・トルク試験システム
    ・生産ライン・設備の試験システム 

     

    【導入実績1】

     

    業界 気象業界
    顧客の課題

    ・ 開発、保守、運用、機能追加に関して低コスト化に留意する

    ・ 機器構成は可能な限り最小化し、シンプルな構成とする

    ・ データ欠測がなく、24 時間365 日止まることなくロギングを行う

    システム名称 気象観測システム
    アプリケーション 気象データ処理設備更新およびイプシロン打ち上げ対応設備
    概要・特徴 NI CompactRIO 6 台使用して、遠隔地でのデータ集録、リアルタイム計測、長期データロギング を行います。
    課題解決の鍵となった技術

    ①、耐環境性、コンパクト性
     NI cRIO-9111 の動作温度は、-40℃から 70℃のため、屋外の厳しい環境下にも耐えることができました。また屋外収容箱はスペース的な問題もあったが、非常にコンパクトなため、難なく設置が可能となりました。

    ②、ネットワーク上からのデータ閲覧機能
     LabVIEW Web サービスを導入し、ユーザはブラウザから任意のNI CompactRIO にアクセスすることができ、リアルタ イムで気象センサの値をモニタリングすることが可能となりました。

    ③、信頼性の高いシステム
    基本的にNI CompactRIO は集録したデータをUDP でサーバに送り続けてリアルタイムで表示しているが、データは常に コントローラに接続された USB メモリに保存されます。ネットワーク上に何らかの不具合が生じたとしても、 スタンドアローンでロギングし続けるため、データのロスの心配ありません。24 時間に 1 回、1 日分のデータを FTP でサーバに転送することで、サーバのデータロスを回避しました。

    システム又は製品の詳細説明 システム全体に関するプログラムをLabVIEW内で統一的に構築できること、およびNI CompactRIOの採用により、従来の1/2以下、約5ヶ月という短期間でシステムを完成、既存システム導入時の1/5以下のコストで構築することができました。
    また、NI CompactRIOのソフトウェアを修正する場合、ネットワークで接続されている気象室の管理PCからソフトウェアの入れ替えが可能なため、保守性にも優れたシステムとなっています。
    使用したハードウェア

    ・ NI cRIO-9111 (4 スロット NI CompactRIO シャーシ)

    ・ NI cRIO-9024 (Real-Time PowerPC コントローラ)

    ・ NI 9219 (ユニバーサルアナログ入力モジュール 4ch)

    ・ NI 9870 (RS232 シリアルモジュール、4 ポート)

    ・ NI 9871 (RS485 シリアルモジュール、4 ポート)

    使用したソフトウェア LabVIEW
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク

    http://www.peritec.co.jp/work/case01.html

    http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-15768

     

    【導入実績2】

     

    業界 EMC・電磁ノイズ評価 業界
    顧客の課題 遠方電磁ノイズの測定には電波暗室という巨大な設備が必要であり、またその建設費用は高額(2億~10億円/棟)です。さらに多大な検査測定時間(最短でも3日間は必要)が掛り、開発最終段階での評価なので基準に達しない場合は設計段階まで戻る必要があります。
    システム名称 EMIテスター
    アプリケーション 遠方電磁界の推測機能を可能とする近傍電磁界測定システム
    概要・特徴 EMI評価装置の、小型化・低コスト化の飛躍的向上により、電子機器の設計段階からEMI評価を行なうことが可能です。
    課題解決の鍵となった技術 今回開発した近傍電磁界を測定する装置は、太陽誘電㈱の特許技術である近傍電磁界の強度、位相、方向を評価する手法をベースにして開発を行いました。本特許技術は、ノイズが発生している電子機器の近傍に導体を設置し、その導体に流れた電流の位相を解析することで、電界と磁界を、位相を含めて求めるものです。また、電子機器の周囲を3次元的に測定(スキャン)することで、電子機器のどの方向にどの様な強度・位相で電界や磁界が生じているか測定できるものです。
    システム又は製品の詳細説明 電子機器から発生する電界・磁界のノイズ分布を高精度に自動測定します。
    高精度可動テーブルは、PCBIC等に複雑な凸凹があっても、その形状を自動的にトレースし、高感度に測定します。
    測定したデータは、多彩な3Dグラフィックスで可視化します。
    使用したハードウェア

    NI PXIe-1082 またはNI PXIe-1073(シャーシ)

    NI PXIe-8880 (コントローラ)

    NI PXIe-5665(高性能RFベクトル信号アナライザ)

    使用したソフトウェア LabVIEW
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク

    http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-14303

    http://www.peritec.co.jp/product/index_emc.html

     

    【導入実績3】

     

    業界 自動車業界
    顧客の課題 エラーの可能性が高いMan-in-the-Loop Testからの脱却や多機種のメータテストへの対応、高解像度の画像処理が可能なECUテスタを開発が求められていました。
    システム名称 ECUテスター
    アプリケーション HILテストで高品質・時間短縮をさらに加速した汎用車載用メータECU自動テスト装置
    概要・特徴 TestStandをプラットホームとして位置づけデータベースとリンクすることのより品質管理ツールや過去のデータを有効に使う事が可能です。
    課題解決の鍵となった技術 多機種への対応を『カメラを移動するXYステージ制御』というアイデアにより問題を解決することができました。さらに暗箱の中にインジケータテスト用カメラとマイクを設置することにより、必要なすべてのテストを可能とするシステムを構築することができました。テストを実現する基本構成として、豊富な計測モジュールが揃っているNI製品とカスタマイズ可能なLabVIEWTestStandの採用が必要不可欠であったことは言うまでもありません。
    システム又は製品の詳細説明

    ・ ソフトにTestStandを採用しているのでその使い勝手をそのままテスタとして受け継ぐことができます。

    ・ プログラムを変更せずパラメータのみで試験が変更できるように作られています。

    ・ LabVIEWでプログラムを変更することにより最適化した試験を実現することができます。

    ・ プラットホームとしての位置づけで収集したデータの処理にはエクセルを使うことにより使い慣れたツールや資産をリンクすることを可能としています。

    使用したハードウェア

    ・ NI PXI-7833R (FPGA DAQ)

    ・ NI PXI-4070 (DMM)

    ・ NI PXI-5402 (波形発生器)

    ・ NI PXI-8464 (CAN通信)

    ・ NI PXI-2569 (Switch)

    ・ NI PXI-6251 (DAQ)

    使用したソフトウェア LabVIEW、TestStand
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク

    http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11531

    http://www.peritec.co.jp/product/index_car.html

     

     

    【製品1】

     

    業界 生産ライン・生産管理
    名称 機械設備状態監視システム
    アプリケーション 機械設備状態監視、データロギング
    概要・特徴

    機械設備の異常を早期に検知することで事故の防止、保守費用を削減

    システム又は製品の詳細説明

    ・ 設備の運転状態や健全性を把握

    振動、ノイズ、温度計測値などのデータの傾向を見ることで機械の健康状態に関する情報が取得

    早期段階で機械の欠陥を検知できるため、予期せぬ故障や高額な修理を回避することが可能

    ・ データはWEB上でどこからでも閲覧可能

    使用したハードウェア

    ・ NI cRIO-9030(コントローラ)

    ・ NI 9375(デジタル入出力モジュール)

    ・ NI 9213(熱電対入力モジュール)

    ・ NI 7935R(FlexRIO用コントローラ)

    ・ NI PXIe-1082(8スロットシャーシ)

    ・ NI PXIe-8880(コントローラ)

    ・ NI 8234(Ethernet インタフェースモジュール)

    ・ NI 9208(電流入力モジュール)

    ・ NI 9923(37ピン D-Sub モジュール)

    ・ NI 9212(熱電対 Cシリーズモジュール)

    ・ NI 9469(同期モジュール)

    使用したソフトウェア LabVIEW
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク http://www.peritec.co.jp/product/joutai.html

     

    【製品2】

     

    業界 EMC・電磁ノイズ評価  関連
    名称 EMI テスター EMI-360
    アプリケーション 3次元ノイズキャプチャー装置
    概要・特徴 電界・磁界ノイズ分布を電磁界ノイズ測定システムとモーションカメラで3D表示に可視化
    システム又は製品の詳細説明

    ・ 誰でも簡単に、大きな装置のノイズを測定することができます

    ・ 電磁界ノイズシステムとモーションカメラシステムの融合により、3D空間のノイズを可視化することができます

    使用したハードウェア

    ・ NI PXIe-1082 またはNI PXIe-1073 (シャーシ)

    ・ NI PXIe-8880 (コントローラ)

    ・ NI PXIe-5665 (ベクトル信号アナライザ)

    使用したソフトウェア LabVIEW
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク

    http://www.peritec.co.jp/product/emi360.html

     

    【製品3】

     

    業界 自動車関連
    名称 車載データロガー
    アプリケーション 自動車データ集録、データロガー/データ収集システム
    概要・特徴 車載試験で測定データを欠落なく収録・完全再生が可能
    システム又は製品の詳細説明

    ・ 車両トランクに積載して、画像、CAN、シリアル、A/Dのデータを基準クロックで同期させてデータの欠落やデータズレなく収録が可能

    ・ 収録したデータの時間的な同期を保障して任意時間でテキストファイルを出力、収録時同様に再生することが可能

    ・  最大3.6GB/sの高速データ保存速度

    ・ 長時間連続的に同期収録が可能

    ・ データの保存先、収集データ数、データ内容、サンプリング速度、トリガ条件などを設定可能

    ・ モジュール式の計測器により用途に合わせて柔軟にカスタマイズが可能

    ・ LabVIEWを使った操作性の良いソフトウェア

    使用したハードウェア

    ・ NI PXI-1042Q (シャーシ)

    ・ NI PXI-8115 (コントローラ)

    ・ NI PXI-8513/2 (CAN)

    ・ NI PXI-6251 (AI/AO、DI/DO)

    ・ NI PXI-1435 (画像入力モジュール)

    使用したソフトウェア LabVIEW、NI Vision
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク

    http://www.peritec.co.jp/product/datalogger.html

     

    【製品4】

     

    業界 半導体関連
    名称 ICテスター「ECOIC」
    アプリケーション データ集録と信号処理、テスト/検証システムの自動化
    概要・特徴 市販製品の1/10コストで機能構築した高機能ICテスター
    システム又は製品の詳細説明

    ・ ソフトにTestStandを採用しているのでその使い勝手をそのままテスターとして受け継ぐことができます

    ・ 例えばプログラムを変更せずパラメータのみで試験が変更できるように作られています

    LabVIEWでプログラムを変更することにより最適化した試験を実現することができます

    ・ プラットホームとしての位置づけで収集したデータの処理にはエクセルを使うことにより使い慣れたツールや資産をリンクすることを可能としています

    使用したハードウェア

    ・ NI PXI-2503 (スイッチ)

    ・ NI PXI-4070 (デジタルマルチメータ)

    ・ NI PXI-6551 (デジタルパターンI/O)

    ・ NI PXI-6281 (マルチファンクションDAQ)

    ・ NI PXI-4461 (音響・振動解析用DAQ)

    ・ NI PXI-6602 (カウンタ)

    ・ NI PXI-6508 (デジタルI/O)

    使用したソフトウェア LabVIEW、TestStand
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク

    http://www.peritec.co.jp/product/index_ic.html

    http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-10796

     

    【製品5】

     

    業界 RFID関連
    名称 RFIDテスター
    アプリケーション データ集録と信号処理、テスト/検証システムの自動化
    概要・特徴 独自の計測技術を用いた複数規格対応「RFID総合試験機」
    システム又は製品の詳細説明

    ・ タグ及びリーダーの測定結果を瞬時に表示

    ・ 周波数特性をビジュアルに測定

    ・ タグ、リーダーの信号をシミュレート

    ・ 開発から生産までスムーズに対応

    ・ ISO・EPC・Global 仕様、セキュアRFID プロトコル完全対応

    使用したハードウェア

    ・ NI PXI-5610 (RF モジュール2.7 GHz アップコンバータ)

    ・ NI PXI-5600 (2.7 GHz ダウンコンバータ)

    ・ NI PXIe-5641R (RIO IF トランシーバ)

    使用したソフトウェア LabVIEW
    サポート形態 電話・電子メール・FAX・訪問
    関連ウェブサイトリンク

    http://www.peritec.co.jp/product/index_rfid.html

    http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-13806